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Il Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) JEOL JEM 2100 Plus ha una ha una sorgente in LaB6 e può lavorare a tensioni di accelerazioni comprese tra 80 e 200 kV. I pezzi polari per alta risoluzione di cui è dotato lo strumento permettono una risoluzione spaziale di 0,24 nm, che unitamente all’ampio range di tilt (+/- 45° con un porta-campioni doppio tilt di tipo standard), lo rendono estremamente versatile ed
JEOL JEM 2100
JEM-2100Plus: A new 200kV Transmission Electron Microscope
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JEM-2100Plus Electron Microscope, Products
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Transmission Electron Microscope, LaB6 TEM
Microscopio elettronico a trasmissione - JEM-2100Plus - Jeol - multiuso / biomedico / medico
JEOL JEM 2100
JEM-2100Plus - JEOL (Germany) GmbH and Nordic (AB)
JEOL JEM-2100 Electron Microscope
Microscopio elettronico a trasmissione - JEM-F200 - Jeol - per analisi / in campo chiaro / a campo scuro
Microscopio elettronico a trasmissione - JEM-2100Plus - Jeol - multiuso / biomedico / medico
Microscopio ELettronico FIB SEM - Piattaforma di Microscopia
SEM da banco JEOL JCM-7000 - JEOL (Italia) S.p.A.